可以改變樣本板材的厚度，可以被單獨或成組測量，從而突出在同一樣板不同點位的材料密度分布情況的特定差異。（板材兩個表面的密度分布情況等） 該系統基于X射線控制理論，能夠在材料與測量儀器沒有任何接觸的情況下分析剖面密度。它由一個X射線源和一個接收器構成，在二者之間放置剖面密度測試樣本。 對于被測材料的理想的輻射強度可由X射線管的變化電流和電壓獲得。被采用的接收器具有快速響應和高精確度是其兩大主要特點。 這兩大特點的結合促使以下現實成為可能，有史以來第一次達到了一個驚人的速度，而且在同時，還能保持卓越的精確度和出色的測量重復性。特點： 平均密度

     鏡像同一條剖面密度曲線，從而強調在兩個表面之間可能存在的任何差異。

     密度值最大點和最小點

     剖面密度表示為百分比，或者密度單位kg/m3或lb/ft³

     在一個圖表中比對兩個不同的剖面密度

     放大密度曲線的任何一個區域

     試件裝載和測量快速并簡易 DPX300 DPX300 LTE

    Size of sample holder

    試件夾具尺寸 2x350 mm 1X100 mm

    Sample thickness 試件厚度 1-100 mm 1-100 mm

    Measuring technology adopted

    采用的測量技術 Collimated X-ray source

    29 KV, 1.2mA

    校準X射線源 Collimated X-ray source

    29 KV, 0.5mA

    校準X射線源

    Scanning speed 掃描速度 0.01-0.5 mm/sec

    Operating temperature

    工作溫度 5 - 45°C

    Resolution 分辨率 0.01mm - 0.05mm

    Repeatibility 重復性 0.1%

    Accuracy 精度 ± 0.1 %

    Data processing standards 數據處理標準 DIN, EN, ASTM, ANSI

    Power supply 電源供應 110 V or 220 V